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超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统——国外电子与通信教材系列（美）布什内尔（Bushnell,M.L.） 等著，蒋安平 等译
内容提要：
VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。
本书可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。
目录：
第一部分 测试概论
第1章 引言
1.1 测试哲学
1.2 测试的作用
1.3 数字和模拟VLSI测试
1.4 VLSI技术的发展趋势对测试的影响
1.5 本书范围
1.6 习题
第2章 VLSI测试过程和测试设备
2.1 如何测试芯片
2.1.1 测试类型
2.2 自动测试设备
2.2.1 Advantest Model T6682测试仪
2.2.2 LTX Fusion ATE
2.2.3 多点测试
2.3 电气参数测试
2.4 小结
2.5 习题
第3章 测试经济学和产品质量
3.1 测试经济学
3.1.1 成本定义
3.1.2 生产
3.1.3 成本利润分析
3.1.4 可测性设计的经济学
3.1.5 十倍法则
3.2 良率
3.3 测量品质的缺陷等级
3.3.1 测试数据分析
3.3.2 缺陷级别评估
3.4 小结
3.5 习题
第4章 故障模型
4.1 缺陷、错误和故障
4.2 功能测试与结构测试
4.3 故障模型的级别
4.4 故障模型术语表
4.5 单固定故障
4.5.1 故障等价
4.5.2 单固定故障的等价
4.5.3 故障压缩
4.5.4 故障支配和检测点定理
4.6 小结
4.7 习题
第二部分 测试方法
第5章 逻辑与故障模拟
5.1 用于设计验证的模拟
5.2 用于测试评估的模拟
5.3 用于模拟的模型电路
5.3.1 模型的层次与模拟器类型
5.3.2 层次连接描述
5.3.3 MOS 网络的门级模型
5.3.4 模拟信号的状态
5.3.5 时序
5.4 用于真值模拟的算法
5.4.1 编码模拟
5.4.2 事件驱动模拟
5.5 故障模拟算法
5.5.1 串行故障模拟
5.5.2 并行故障模拟
5.5.3 推演故障模拟
5.5.4 并发故障模拟
5.5.5 Roth的TEST-DETECT算法
5.5.6 微分故障模拟
5.6 故障模拟的统计学方法
5.6.1 故障取样
5.7 小结
5.8 习题
第6章 可测试性度量
6.1 SCOAP可控制性和可观测性
6.1.1 组合SCOAP度量
6.1.2 组合电路的例子
6.1.3 时序SCOAP度量
6.1.4 时序电路的例子
6.2 高层次可测试性度量
6.3 小结
6.4 习题
第7章 组合电路测试生成
……
第8章 时序电路的测试矢量生成
第9章 存储器测试
第10章 基于DSP模拟和混合信号测试
第11章 基于模型的模拟和混合信号测试
第12章 延迟测试
第13章 IDDQ测试
第三部分 可测试性设计
第14章 数字电路DFT和扫描设计
第15章 内建自测试
第16章 边界扫描标准
第17章 模拟测试总线标准
第18章 系统测试和基于核的设计
第19章 测试的未来
附录A 循环冗余码理论
附录B 级数从1到100的本原多项式
附录C 有关测试的书籍
参考文献
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